Die neue Dimension der thermischen Fehleranalyse elektronischer Komponenten – Auflösung von Mikrostrukturen im Mikrokelvin-Bereich

Sichere Analyse kleinster Bildstrukturen mittels Aktiv-Thermografie

Kleinste Strukturelemente auf großflächig ausgedehnten Platinenflächen stellen die Abbildungseigenschaften der Kameratechnik vor anspruchsvolle Aufgaben. Die Detektion kleinster Hotspots wird maßgeblich durch das geometrische Auflösungsvermögen der Kamera bestimmt – in Abhängigkeit des implementierten Detektors und der verwendeten Optik. Mit den Thermografiekameras von InfraTec stehen dem Anwender Detektorformate bis zu (1.024 × 768) IR-Pixel bei ungekühlter und (1.280 × 1.024) IR-Pixel bei gekühlter Funktionsweise zur Verfügung – Werte, die ihresgleichen am Markt suchen und Thermografiebilder in nie gekannter Detailauflösung garantieren.

High-End Kameraserie ImageIR® von InfraTec

Neben den Grenzen der geometrischen Auflösung sind weitere Besonderheiten bei der thermografischen Analyse von elektronischen Schaltungen zu beachten. In vielen zu untersuchenden Fehlerfällen erwärmt sich das Objekt mit dem Anlegen der Betriebsspannung so gleichmäßig, dass damit eine thermische Lokalisierung der Problemursache nahezu ausgeschlossen ist. Abhilfe kann eine Technik schaffen, die ansonsten in der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Wärmefluss-Thermografie angewendet wird und mit der kleinste Temperaturunterschiede sichtbar gemacht werden können – diese wird Lock-In-Thermografie oder auch Aktiv-Thermografie genannt.

Kameraserie VarioCAM® High Definition

Die Stromversorgung wird bei diesem Verfahren mit einer Synchronisations-Baugruppe getaktet und fungiert somit als aktive Anregungseinheit. Bei der Auswertung einer schnellen Bildfolge können durch die Auswerte-Algorithmen der Aktiv-Thermografie-Software IRBIS ® 3 active Fehler, die sich lediglich durch Temperaturunterschiede im Milli- und Mikrokelvin-Bereich auswirken, sicher detektiert werden.


Für die Kameraserien ImageIR ® und VarioCAM ® von InfraTec steht ein breites Optiksortiment zur Verfügung, zusätzliche Mikroskop-Objektive in Verbindung mit dem erforderlichen Sonderzubehör – wie speziellen Halte- und Positioniereinrichtungen – ermöglichen die professionelle Mikrothermografie. Die unterschiedlichen Konfigurationen für mikroskopische Abbildungsverhältnisse erlauben die Analyse kleinster Bildstrukturen in Stufen von 15 µm, 5 µm und bis zu 1,9 µm.

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