Online-Event: Thermografie-Anwenderkonferenz „Forschung & Entwicklung“ (November 2026)
Unsere kostenfreie Thermografie-Anwenderkonferenz am 05. November 2026 bietet Raum für den fachlichen Austausch unter Anwendern aus Wissenschaft und Industrie, insbesondere zu Einsatzmöglichkeiten der Thermografie für anspruchsvollen Aufgaben in Forschung und Entwicklung.
Online-Event “Thermografie-Anwenderkonferenz – Forschung & Entwicklung”
Datum: Donnerstag, 05. November 2026
Uhrzeit: 10:00 – 15:00 Uhr MESZ
Sprache: Deutsch
Preis: kostenfrei
Die Infrarot-Thermografie hat sich zu einer vielseitigen Messmethode entwickelt, die unter anderem in der Elektronik zur Fehlersuche und -lokalisierung, bei der Qualitätskontrolle in der additiven Fertigung oder bei der thermischen Strömungsanalyse zum Einsatz kommt. Die Teilnehmer der Veranstaltung erleben hautnah, was die Technologie derzeit leisten kann, wie die Kameratechnik kontinuierlich weiterentwickelt wird und welche Auswertemöglichkeiten modernste Software bietet. Ergänzend dazu lernen die Teilnehmenden interessante Produktneuheiten sowie die durchdachten Systemlösungen von InfraTec kennen.
In Rahmen der Anwenderkonferenz wird ein solides Verständnis für physikalische Grundlagen, messtechnische Zusammenhänge und typische Einflussgrößen vermittelt; Wissen, mit dem die Nutzer sicherer bei der Durchführung thermografischer Messungen und der Bewertung der Ergebnisse werden. Referenten aus Industrie und Wissenschaft stellen interessante Messaufgaben mit dem Fokus auf Themen aus Forschung und Entwicklung vor. Die praxisnahen Einblicke in die Methodik erfahrener Anwender sollen helfen, das Potenzial der Thermografie für spezifische Messaufgaben künftig noch gezielter einzuschätzen und zu nutzen.
Fachvorträge aus der Thermografiepraxis:
Fachvortrag 1 in deutscher Sprache
Titel: „Unsichtbare Wege – Thermografie zeigt Flugbahnen von Fledermäusen“
Sprecher: Dipl.-Biol. Wigbert Schorcht; SWILD, Zürich & NACHTaktiv, Erfurt
Fachvortrag 2 in deutscher Sprache
Titel: “Thermografie in der Mikroelektronik – Von der Fehlerlokalisierung zur Degradationsanalyse”
Sprecher: Dominic Muß, Manager Analysis of Reliable and Trusted Electronics (CS-ARTE), Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien EMFT