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Pres­se­mit­tei­lungen von InfraTec

Pressemitteilungen von InfraTec mit interessanten News aus den Bereichen Infrarot-Messtechnik und Sensorik.

  • SchauRein bei InfraTec 2026
    13.03.2026
    SchauRein 2026
    Schüler schnuppern bei InfraTec in den Beruf des Mikrotechnologen hinein

    Wie sieht eigentlich die Arbeit eines Mikrotechnologen aus?

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  • Webinar Thermographic Analysis of Mechanical Processes
    10.03.2026
    Online Event: Thermographic Analysis of Mechanical Processes
    Reibung erzeugt Wärme

    Im englischsprachigen, kostenfreien Online-Event von InfraTec „High-Resolution Aerial Thermography“ erfahren Sie mehr über den Einsatz der Thermografie zur Prozesssteuerung und zur Untersuchung von Reibungsprozessen.

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  • 05.03.2026
    35 Jahre InfraTec
    Familiär geprägtes Unternehmen schafft Raum für Entwicklung

    Die InfraTec GmbH Infrarotsensorik und Messtechnik begann als kleines Ingenieurbüro und beschäftigt heute 240 Mitarbeiter in beiden Geschäftsbereichen. Für die Gründer und Geschäftsführer Matthias Krauß und Matthias Heinze sind die Mitarbeiter und ihre Innovationskraft ein wichtiger Pfeiler des Erfolgs. In dreieinhalb Jahrzehnten konnte sich das familiengeführte Dresdner Unternehmen auf dem Markt behaupten und kontinuierlich wachsen.

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  • 03.03.2026
    Optisch unterstützte autonome Landung von Flugzeugen
    Infrarotkameras liefern zuverlässige Informationen auch bei schlechten Sichtverhältnissen

    Forscher der Technischen Universität Braunschweig haben im Rahmen des Projektes „C2Land“ ein optisches Referenzsystem aus einer VIS- und einer Infrarot-Kamera entwickelt, das eine sichere autonome Landung möglich macht. Mittels einer eigens programmierten Bildverarbeitungssoftware lässt sich die genaue Position des Flugzeugs relativ zur Landebahn ermitteln.

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  • Arbeitsplatz zur Fehleranalyse bei STM
    19.02.2026
    Thermografische Fehlerlokalisierung an Chips und Leistungsmodulen
    STMicroelectronics setzt E-LIT-Lösung von InfraTec zur Analyse von Halbleiterbauelementen ein

    Die Lock-In-Thermografie dient bei STMicroelectronics als wichtiges Instrument zur Aufdeckung von Fehlern und deren Ursachen, die bei der Fertigung von Halbleiterbauelementen auftreten. Das elegante und benutzerfreundliche Verfahren ist insbesondere bei der raschen und zielgenauen Lokalisierung von Kurzschlüssen und anderen Anomalien äußerst hilfreich.

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