25.02.2026 | 10:00 MEZ - 12:00 MEZVirtuell
Von der Prototypenentwicklung bis zur Serienfertigung: Lock-in-Thermografie ist ein bewährtes Verfahren zur Analyse elektronischer Bauteile. In unserem kostenlosen Online-Event zeigen wir, wie sich damit Hotspots, Kurzschlüsse oder Lötfehler zuverlässig erkennen lassen – ideal für Entwicklung, Qualitätssicherung und Prozesskontrolle.