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Ther­mo­grafie in der Elek­tronik & Elek­tro­in­dus­trie

Unsichtbare Defekte, Hotspots, instabile Prototypen? Unsere Thermografiesysteme machen selbst µm-Strukturen und µK-Unterschiede sichtbar – berührungslos, schnell, präzise. Ideal für Entwicklung, Fehleranalyse, Lebensdaueranalyse oder Inline-Qualitätssicherung.

InfraTec Kameras und Systeme für die Elektronik

  • Erhalten Sie maximale IR-Auflösung – große & kleine Messobjekte: Detektoren mit bis zu 2.560 × 2.048 IR-Pixeln; Pixelauflösungen < 1µm

  • Messen Sie kleinste Temperaturunterschiede – präzise & innovativ: < 0,015 K; mit Lock-In bis in den µK-Bereich

  • Detektieren Sie kürzeste Reaktionen – schnell & synchron: bis zu 105 kHz, Trigger, 10 GigE

  • Bekommen Sie die individuelle Lösung – modular & skalierbar: Optiken, Software, komplette Prüfplätze

Vorschaubild-Film-DE-Automationsloesung-E-LIT-InfraTec
Temperaturverteilung auf einer Leiterkarte (PCB)
Strukturen auf einem Mikorchip bei 8-facher Vergrößerung
Thermografie-Aufnahme einer Hauptplatine
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Berührungslose Messung in der Elektronik mit einer Wärmebildkamera

Die thermografische Inspektion elektronischer Komponenten und Baugruppen ist ein etabliertes Prüfverfahren zur Fehlersuche und Qualitätssicherung – von der Entwicklung erster Prototypen bis hin zur Serienproduktion.

Anwendungsbereiche der Thermografie in der Elektronik

Fehleranalyse zur Hotspot-Detektion
Thermal Mapping, Messung atypischer Temperaturverteilungen auf der Oberfläche von Leiterplatten, integrierten Schaltkreisen und Multichip-Modulen

Thermisches Design
Thermal Management, thermische Auslegung in Prozess des thermischen Designs

Lebensdaueranalyse
Zum Beispiel durch Validierung von Simulationsrechnungen zur Selbsterwärmung oder durch Analyse der thermischen Alterung

Inline-Qualitätssicherung in der Elektronikfertigung
Vielseitiges Instrument bei der Qualitätssicherung der Prozessparameter und Produkte während der Produktion

Thermografie ermöglicht das Erkennen von
  • erhöhten Übergangswiderständen,

  • Widerstandserhöhungen durch das Einschnüren von Leitungen,

  • verdeckten Rissen in Verbindungsstellen,

  • Verlustleistungen durch HF-Fehlanpassung (Hochfrequenz),

  • fehlerhaften thermischen Anbindungen von Kühlkörpern,

  • Kurzschlüssen, Lötdefekten wie z. B. kalte Lötstellen,

  • thermisch aktiven Watermarks als Schutzmaßnahme vor Cyberangriffen im Hard- und Software-Bereich.

Vorteile der Thermografie in diesen Anwendungsfeldern
  • Gefahrlose Temperaturmessung auch an spannungsführenden Teilen

  • Komplette Erfassung der Temperaturverteilung und ihres zeitlichen Verlaufes von komplexen Baugruppen im laufenden Betrieb

  • Beeinflusst weder die HF-Impedanz des Messobjektes noch die Wärmeableitung von selbigem, was der sicheren Vermeidung entsprechender Messfehler dient

  • Temperaturunterschiede von im µK-Bereich klar bestimmen

Lock-In-Thermografie: Temperaturunterschiede im µK-Bereich klar bestimmen

Die Thermografie hat sich als Standardverfahren in der Elektronik etabliert. Mit steigender Miniaturisierung und immer geringeren Versorgungsspannungen werden Fehleranalysen komplexer. Klassische Thermografiekameras mit Auflösungen bis < 20 mK reichen in vielen Fällen aus, stoßen jedoch an ihre Grenzen.

Um allerkleinste Temperaturunterschiede im µK-Bereich zu detektieren, kommt die Lock-In-Thermografie zum Einsatz. Hierbei wird das Prüfobjekt durch eine periodische Anregung zerstörungsfrei untersucht. Die Messdauer bei der Anwendung des Lock-In-Verfahrens steigt mit der gewünschten Auflösung gegenüber einer Echtzeitmessung deutlich und kann mehrere Minuten betragen. Deshalb ist es besonders hilfreich, wenn solche Messungen mit einer großformatigen, geometrisch hochauflösenden Kamera „in einem Zug“ gemacht werden können.

Vorteile auf einen Blick:

  • Höchste Empfindlichkeit: Temperaturunterschiede im µK-Bereich erfassen

  • Zerstörungsfreie Analyse: durch periodische Anregung Fehler zuverlässig aufdecken

  • Optimale Ergebnisse bei komplexen Bauteilen: durch großformatige, hochauflösende Kameras

  • Effizienzgewinn: weniger Stitching, geringerer Aufwand, niedrigere Kosten

Erfahren Sie mehr zum Thema Aktive Thermografie

Erkennung und Zuordnung der Position von Defekten im µK-Bereich

Lock-In-Thermografie; Klassische Thermografieaufnahme – Fehlstelle nicht erkennbar
Klassische Thermografieaufnahme – Fehlstelle nicht erkennbar
Lock-In-Thermografie; Amplitudenbild – Analyse mittels Lock-In-Thermografie
Amplitudenbild – Analyse mittels Lock-In-Thermografie
Lock-In-Thermografie; Kombination aus Live- und Amplitudenbild
Kombination aus Live- und Amplitudenbild
Whitepaper

Prüfung von Elektronik- und Halbleitermodulen mittels Lock-In-Thermografie

Erfahren Sie in unserem Whitepaper, wie Sie mittels Lock-In-Thermografie Fehlern in Elektronik- und Halbleiterbauteilen auf die Spur kommen. Profitieren Sie von unseren Praxistipps und erzielen Sie bestmögliche Messergebnisse mit dem E-LIT-Prüfstand von InfraTec.

Anwendungsfelder der Thermografie in der Elektronikprüfung

Die Thermografie ist heute ein zentrales Werkzeug in der Elektronikentwicklung und -fertigung. Sie unterstützt Ingenieure und Qualitätsverantwortliche dabei, Wärmeverteilungen sichtbar zu machen, Fehlerquellen frühzeitig zu identifizieren und die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen zu sichern. Von der ersten Designphase bis zur Serienproduktion liefert sie wertvolle Informationen für stabile Prozesse und hochwertige Produkte.

Anwendungsfeld der Thermografie in der Elektronikprüfung

Elektronische Fehleranalyse

Die Fehleranalyse mithilfe der Thermografie ist essenziell für die Ursachenforschung, wenn die Funktion elektronischer Produkte eingeschränkt ist oder aber sicherheitsrelevante Probleme auftreten. Wärmebildkameras erlauben eine genaue Identifizierung atypischer Temperaturverteilungen, sowohl in der Fläche als auch räumlich. Bei Einsatz hochauflösender Kameras in Verbindung mit der Lock-In-Thermografie lassen sich geringste Temperaturunterschiede im µK-Bereich messen. Eine hohe geometrische Auflösung ermöglicht die Analyse bis in kleinste Details.

Anwendungsbeispiele der elektronischen Fehleranalyse

  • Erhöhte Widerstände bei Wärmeübergängen zuverlässig detektieren

  • Thermische Auffälligkeiten in integrierten Schaltungen detektieren und präzise lokalisieren

  • Kurzschlüsse und andere Defekte auffinden

  • Integrierte Schaltkreise und (leistungs-)elektronischer Schaltungen auf Hotspots untersuchen

  • Fehleranalyse beim Design von PCB im Falle einer Überhitzung

  • 3D-Tiefenanalyse von Fehlern in mehrlagigen Leiterplatten und Multi-Chip-Modulen durch Anpassung der Lock-In Frequenz

  • Elektronikprüfung zur Ermittlung von Wärmebrücken, Überhitzungen und anderen Anomalien in elektronischen Geräten und Schaltungen

Vorteile der Thermografie in der Fehleranalyse
  • Frühzeitige Erkennung von Defekten und sicherheitsrelevanten Schwachstellen

  • Vollflächige Visualisierung atypischer Temperaturverteilungen in Echtzeit

  • Zerstörungsfreie Untersuchung auch bei empfindlichen oder komplexen Baugruppen

  • Hohe Präzision bis ins µK-Bereich durch Lock-In-Thermografie

  • Schnelle Lokalisierung der Ursache statt nur der Symptom-Messung

Thermogramm einer Platine, Aufnahme mit ImageIR® 9500
Anwendungsfeld der Thermografie in der Elektronikprüfung

Thermisches Design – Thermal Management Layouting

Im Rahmen der Entwicklung neuer Chip-Technologien und Anwendungen in der Leistungselektronik spielt das thermische Design elektronischer Komponenten eine tragende Rolle. Mithilfe der Thermografie können durch übermäßige Wärmeentwicklung auffallende, potenzielle Schwachstellen bereits in der Entwicklungsphase identifiziert und Anpassungen frühzeitig vorgenommen werden.

Anwendungsbeispiele beim Thermal Management Layouting

  • Analyse der Temperaturentwicklung und Wärmeableitung beim PCB-Design (Printed Circuit Boards)

  • Optimierung der Energieverarbeitung im Bereich der Leistungselektronik

  • Verbesserung der Wärmeverteilung in Schaltnetzteilen und Stromversorgungssystemen

  • Entwicklung von Strategien zur Kühlung

  • Thermisches Management zur Qualitätssicherung

  • Validierung von Simulationsrechnungen zur Selbsterwärmung elektronischer Objekte

Vorteile der Thermografie beim thermischen Design
  • Vollflächige Darstellung der Temperaturverteilung statt punktueller Messung hilft, Fehler nicht zu übersehen

  • Berührungslos & zerstörungsfrei, auch bei empfindlichen Bauteilen

  • Hohe zeitliche Auflösung, um dynamische Wärmeprozesse sichtbar zu machen

Thermografie-Aufnahme einer Leiterplatte
Anwendungsfeld der Thermografie in der Elektronikprüfung

Lebensdaueranalyse

Gerade bei der Entwicklung neuer elektronischer Komponenten oder Baugruppen stehen anfangs keine anwendungsspezifischen Daten und Informationen zu Lebensdauer und Leistungseinbußen zur Verfügung. Die möglichst genaue Vorhersage dieser Kennwerte kann zu einem entscheidenden Wettbewerbsvorteil werden. Hersteller und Entwickler führen daher aufwändige Temperatur- oder Lastwechseltests durch, um die Alterung der elektronischen Komponenten zu simulieren.

Insbesondere bei 24/7-Langzeittests zahlt sich die hohe Zuverlässigkeit der Thermografiekameras von InfraTec aus. Bei den neusten Modellen können programmierte Messreihen für Langzeit- und Stresstests direkt auf dem internen Speicher (SDK) der Kamera abgelegt werden. Add-ons zur Analyse- und Auswertungssoftware IRBIS® 3 ermöglichen zudem die Verwendung von Programmier- und Entwicklungsumgebungen, die die Datenerfassung und Signalverarbeitung in Echtzeit erleichtern.

Die Ansteuerung per Fernbedienung reduziert Störquellen wie das Verwackeln des Bildes beim Berühren der Kamera.

Anwendungsbeispiele bei der Lebensdaueranalyse

  • Analyse der Temperaturentwicklung bei elektrischen, thermischen oder mechanischen Stresstests an und auf elektronischen Objekten

  • Messung des Temperatur-Zeitverhaltens bei Langzeittests

Hotspot-Detektion bei GaN  - HEMTs (High-Electron-Mobility-Transistoren), bestehend aus GaN
Vorteile der Thermografie in der Lebensdaueranalyse
  • Frühzeitige Prognosen zu Lebensdauer und Leistungseinbußen elektronischer Komponenten

  • Realitätsnahe Simulation durch Temperatur- und Lastwechseltests

  • Lückenlose Dokumentation von Temperatur-Zeit-Verläufen während Langzeittests

  • Hohe Zuverlässigkeit im Dauerbetrieb (24/7) für valide Ergebnisse

  • Kosten- und Risikoreduktion, da Schwachstellen vor Markteinführung erkannt werden

Anwendungsfeld der Thermografie in der Elektronikprüfung

Elektronikfertigung

In der Elektronikfertigung wird die thermografische Temperaturmessung als vielseitiges Instrument bei der Qualitätssicherung eingesetzt.

Anwendungsbeispiele in der Elektronikfertigung

  • Permanente Überwachung kritischer technologischer Parameter

  • Inline-Prüfung der in Fertigung befindlichen Produkte

  • Abschließende Funktionsprüfung

Vorteile der Thermografie in der Elektronikfertigung
  • Inline-Qualitätskontrolle während der Produktion ohne Prozessunterbrechung

  • Frühzeitige Fehlererkennung → Ausschussraten sinken, Prozessstabilität steigt

  • Berührungslose Prüfung auch an sensiblen oder spannungsführenden Komponenten

  • Schnelle End-of-Line-Tests für eine sichere Produktfreigabe

  • Lückenlose Prozessüberwachung kritischer Parameter für reproduzierbare Qualität

Vorschaubild-Film-DE-Automationsloesung-E-LIT-InfraTec

Leistungsstarke Thermografie-Systeme von InfraTec

Detektorformat 2.560 x 2.048 IR Pixel
Detektorauflösungen

von bis zu (2.560 × 2.048) nativen IR-Pixeln zur Prüfung komplexer Baugruppen – also die 16fache Auflösung von Standard VGA-Kameras mit (640x 512) Pixeln

Infratec Icon Mikrooptik
Erstellung hochaufgelöster Detailaufnahmen

mit Pixelauflösungen von weniger als von bis zu 1.3 µm mit InfraTec´s Mikroskopen und sogar unter 1 μm unter Verwendung von SIL-Linsen

InfraTec Icon Objektivwechsel
Große Arbeitsabstände beim mikroskopischen Arbeiten

erlauben eine einfache Manipulation der DUT (Device Unter Test) bei der Messung

thermische Auflösung 15 mK
Erkennung von Temperaturunterschieden

zwischen defekten und intakten Strukturen im Bereich weniger Mikrokelvin dank hoher thermischer Auflösung bis < 0,015 K oder im µK-Bereich in Kombination mit dem Lock-In-Verfahren

Messgenauigkeit 1%
Messgenauigkeiten

von bis zu ± 1 °C oder 1 % für sichere Messungen und ihre Vergleichbarkeit

InfraTec Icon Vollbildfrequenz 1,105 Hz
IR-Bildfrequenz 1.105 Hz (640 x 512)

Analyse sehr schneller Temperaturpulse im Vollbildformat oder bis zu 105 kHz im Teilbildmodus Triggerung und Synchronisation

InfraTec Icon Trigger
Triggerung und Synchronisation

Optimale Einrichtung für LIT, geringer Jitter und Latenzen

Verarbeitung großer Datenmengen
Integration analoger Daten

direkte Verknüpfung von Temperaturmesswerten mit anderen Prozesskenndaten

Thermografiekamera ImageIR

Ther­mo­gra­fie­sys­teme für die Elek­tronik und Elek­tro­technik indi­vi­duell konfi­gu­rieren

In Abhängigkeit von der jeweiligen Aufgabenstellung können Nutzer ganz gezielt die für sie passende Ausstattung zusammenstellen. Ausgangspunkt wird dabei meist die Wärmebildkamera sein. Gekühlter oder ungekühlter Detektor? Welches Detektorformat? Soll das Thermografiesystem die Lock-In-Thermografie unterstützen? Wie viel Flexibilität ist beim Abstand von Messobjekt und Kamera gewünscht? Welchen Einfluss hat dies auf die Wahl von Mikroskopobjektiven und Makrovorsätzen? Je nachdem, wie die Antworten auf diese Fragen ausfallen, kann InfraTec Thermografiesysteme unterschiedlichster Leistungsstärke anbieten – von der einzelnen Kamera bis zum automatisierten modularen Prüfplatz E-LIT.

E-Lit Schrank von InfraTec für Infrarotthermografie
ZfP - Zerstö­rungs­freie Prüfung
Elektronik- und Halbleitermodulprüfung – E-LIT

Detektieren Sie bereits während der Fertigung ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste mittels Lock-In-Thermografie.

Kamerafilter für Wärmebildkameras
Wärmebildkameras
Wärme­bild­ka­meras für die Elek­tronik

Finden Sie die passende Thermografiekamera aus unserer Produktpalette zur Lösung Ihrer Messaufgabe in der Elektronik.

Wärmebildkamera von InfraTec
Thermografie-Paket
VarioCAM® HDx head Lock-In

Die kompakten Abmessungen und das geringe Gewicht gehören zu den Vorteilen der VarioCAM® HDx head Lock-in. Geht die Aufgabenstellung mit einem konstanten Messszenario in industrieller Umgebung einher, ist sie die erste Wahl.

E-Lit Schrank von InfraTec für Infrarotthermografie
ZfP - Zerstö­rungs­freie Prüfung
Elektronik- und Halbleitermodulprüfung – E-LIT

Detektieren Sie bereits während der Fertigung ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste mittels Lock-In-Thermografie.

Kamerafilter für Wärmebildkameras
Wärmebildkameras
Wärme­bild­ka­meras für die Elek­tronik

Finden Sie die passende Thermografiekamera aus unserer Produktpalette zur Lösung Ihrer Messaufgabe in der Elektronik.

Wärmebildkamera von InfraTec
Thermografie-Paket
VarioCAM® HDx head Lock-In

Die kompakten Abmessungen und das geringe Gewicht gehören zu den Vorteilen der VarioCAM® HDx head Lock-in. Geht die Aufgabenstellung mit einem konstanten Messszenario in industrieller Umgebung einher, ist sie die erste Wahl.

Vorteile - Präzise Ergeb­nisse in kürzester Zeit

InfraTec Thermografie - Geometrische Auflösung

Geome­tri­sche Auflö­sung – Effi­zient komplexe Baugruppen analy­sieren

Wärmebildkameras von InfraTec mit gekühlten und ungekühlten Detektoren verfügen über native Auflösungen von bis zu (2.560 × 2.048) IR-Pixeln. Räumlich hochaufgelöste Thermogramme stellen sicher, dass Komponenten und Baugruppen bis ins kleinste Detail abgebildet sind und dadurch Fehler sicher erkannt und präzise lokalisiert werden können.

InfraTec Thermografie - Thermische Auflösung

Ther­mi­sche Auflö­sung – Unter­schiede von nur wenigen Milli­kelvin bestimmen

Zur Erkennung geringer Temperaturänderungen bieten Wärmebildkameras von InfraTec thermische Auflösungen bis < 15 mK im Echtzeitbetrieb. Durch das Verfahren der Lock-In-Thermografie lässt sich dieses Auflösungsvermögen weiter deutlich erhöhen. Dafür werden Prüfobjekte periodisch angeregt und zerstörungsfrei auf Fehler und Unregelmäßigkeiten hin untersucht.

InfraTec Thermografie - HighSpeed-Modus

High-Speed-Modus

Schneller messen bei konstantem Bildfeld

Dank der Binning-Technologie verfügen Wärmebildkameras über einen zusätzlichen High-Speed-Modus, in dem die Bildfrequenz auf mehr als das Dreifache ansteigt und die thermische Auflösung verdoppelt werden kann.

InfraTec Newsletter - MicroScan-Funktion der Kameraserie ImageIR

Micro­Scan-Funktion

Geometrische Auflösung vervierfachen

Durch Einsatz eines schnell rotierenden MicroScan-Rades kann die genutzte Pixelanzahl gegenüber der nativen Pixelzahl des FPA-Detektors vervierfacht und so die Bildqualität deutlich verbessert werden.

InfraTec Thermografie - Funktion EverSharp

Multifokus-Funktion

Scharfe Abbildung aller Objekte im Bild

Mit der innovativen Multifokus-Funktion wird die Qualität der Aufnahmen vollkommen unabhängig von der Tiefenschärfe der verwendeten Optik oder dem Abstand der Messobjekte zur Kamera.

HighSense für Thermografiekameraserie ImageIR®

High­Sense-Funktion

Garant für Flexibilität und Messgenauigkeit

Dank der innovativen Funktion bleibt die Messgenauigkeit der Kameras auch dann erhalten, wenn Integrationszeiten oder die Messbereiche verändert werden. Anwender sparen so Zeit und Kosten.

InfraTec Service Kalibrierstand

Auto Calibration

Die Option Auto Calibration erweitert die Funktion „HighSense“ um eine automatische, dynamische Anpassung der Integrationszeit, um durchgehend die beste Temperaturmessgenauigkeit und ein optimales Signal-Rausch-Verhältnis zu ermöglichen. Die Aussteuerung eines Detektors („Wellfill“) ist üblicherweise in bestimmten Bereichen des Dynamikumfangs optimal. Befindet sich das Signal des Messobjekts außerhalb dieser bzw. vom Anwender vorgegebener Grenzen, wird die Integrationszeit nachgeregelt.

Thermografie-Aufnahme während der Zündung eines Airbags

Fens­ter­modus

Schnelle Messungen in definierten Teilbereichen

Erfassung sehr schneller Temperatur- und Bewegungsabläufe im Voll-, Halb-, Viertelbild- und Linien-Modus sowie in per Click-and- Drag definierten Teilbildformaten mittels hoher Bildwiederholraten

Thermografie-Kameraserie ImageIR® mit neuer 10 GigE-Schnittstelle

10 GigE-Schnitt­stelle

Extrem schnelle Datenübertragung
Hochauflösende Detektoren und hohe Bildraten erzeugen große Datenmengen. Mit der 10 Gigabit Ethernet-Schnittstelle lassen sich diese Daten schnell, verlustfrei und zuverlässig übertragen.

InfraTec Objektive - Hochwertige Volloptiken

Infrarot-Optiken

Präzise Optiken für vielfältige Anforderungen

Egal, ob Messung im kleinsten Detail oder Überwachung auf große Entfernung: Für thermografische Untersuchungen aller Art stellt InfraTec hochwertige lichtstarke Präzisionsoptiken zur Verfügung.

InfraTec Glossar Motorfokus

Motor­fokus

Fernsteuerbare Fokussierung des Wärmebildes

Wechselbare Standard-Optiken der ImageIR®-Serie können mit einer Motorfokuseinheit ausgestattet werden. Über die Bediensoftware wird so eine präzise, fernsteuerbare und schnelle Fokussierung möglich.

Trigger-Schnittstelle für ImageIR®- und TarisIR®-Kameras

Triggerinterface

Schnittstelle für ein- und ausgehende Steuersignale

Mittels Trigger-Signalen an oder von der Kamera kann die Bilddatenerfassung gesteuert und synchronisiert werden. Auch lassen sich thermografische Messwerte zur Steuerung von Prozessen nutzen.

Beispiele für die Ther­mo­grafie in der Elek­tronik und Elek­tro­technik

Strukturen auf einem Mikorchip bei 8-facher Vergrößerung
Strukturen auf einem Mikorchip bei 8-facher Vergrößerung
Hotspot-Detektion bei GaN  - HEMTs (High-Electron-Mobility-Transistoren), bestehend aus GaN
Hotspot-Detektion bei GaN - HEMTs
Aufnahme einer Leiterplatte mit der Wärmebildkamera ImageIR® 10300
Mikrocontroller mit Spannungswandler
Lebensdaueranalyse durch Temperaturmessung eines Spannungswandels auf einem Mikrocontroller-Board
Thermografie eines Prozessors
Thermografieaufnahme eines Prozessors
Thermografie-Aufnahme einer Mikrocontroller-Platine
Thermografie-Aufnahme einer Mikrocontroller-Platine
Infrarotbild einer Elektronik-Platine
Infrarotbild einer Elektronik-Platine
Thermografie-Aufnahme eines Mikrochips
Infrarotbild eines Mikrochips
Strukturen auf einem Mikorchip bei 8-facher Vergrößerung
Hotspot-Detektion bei GaN  - HEMTs (High-Electron-Mobility-Transistoren), bestehend aus GaN
Aufnahme einer Leiterplatte mit der Wärmebildkamera ImageIR® 10300
Mikrocontroller mit Spannungswandler
Thermografie eines Prozessors
Thermografie-Aufnahme einer Mikrocontroller-Platine
Infrarotbild einer Elektronik-Platine
Thermografie-Aufnahme eines Mikrochips

Praxis­be­richte über Ther­mo­grafie in der Elek­tronik & Elek­tro­in­dus­trie

Arbeitsplatz zur Fehleranalyse bei STM

Fehlerlokalisierung an Chips und Leistungsmodulen bei STM

STMicroelectronics fertigt als europäischer Hersteller weltweit ein breites Sortiment von Halbleiterbauelementen für Elektronikanwendungen. Das Unternehmen führt die Fehleranalyse an Chips, diskreten Bauelementen, Sensoren, LEDs und Leistungsmodulen mit Hilfe des E-LIT-Systems von InfraTec durch. Dabei schätzen die Anwender vor allem die einfache visuelle Identifizierbarkeit von Fehlern sowie die Flexibilität des Systems bei Messungen an unterschiedlichen Bauelementen.

Schadensanalyse an elektronischen Bauteilen | ©BTU Cottbus-Senftenberg

Mit Ther­mo­grafie dem Fehler auf der Spur

Die thermografische Schadens- und Funktionsanalyse an elektronischen Bauteilen gehört mittlerweile zu den etablierten Prüfmethoden in der Elektrotechnik. Auch am Institut für Elektrische Systeme und Energielogistik der BTU Cottbus-Senftenberg nutzt man dieses Verfahren zu Forschungszwecken. Prof. Dr. Ralph Schacht beschäftigt sich in diesem Zusammenhang intensiv mit der Material- und Systemcharakterisierung sowie der zerstörungsfreien Fehleranalytik von Leiterplatten, elektronischen Bauteilen, Mikroelektronik als auch von Verbundsystemen der Aufbau- und Verbindungstechnik.

Ther­mi­sche Mikro­an­triebe für Nano­tech­no­lo­gien

Mikroelektromechanische Systeme (MEMS) bieten eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten auf dem Gebiet der Nanotechnologie. Alltagsbeispiele sind die Lageerkennung von Mobiltelefonen sowie der Einsatz in Airbags, Digitalkameras oder Herzschrittmachern. Weitere Applikationen sind vor allem im Bereich miniaturisierter medizinischer Diagnostik zu finden. Wachsende Ansprüche an die Miniaturisierung betreffen gleichermaßen die dafür erforderlichen Systemlösungen als auch die zu entwickelnden Sensoren und Steuerelemente.

InfraTec Thermografie-Anwenderbericht: CAU Kiel

Leis­tungs­elek­tronik – Die Energie der Zukunft effi­zient steuern

Die Energieeffizienz von Elektronikbauteilen spielt in zahlreichen Anwendungsfeldern eine immer wichtigere Rolle. Und nicht nur das. Gefragt sind in unserem Elektronik- und Hightech-Zeitalter immer schnellere aktive Komponenten, höhere Leistungsdichten von miniaturisierten Systemen sowie absolute Zuverlässigkeit. Hinzu kommen der Anspruch an eine umweltbewusste Ressourcenbeschaffung und die Forderung, dass die Leistungssteigerung von Modulen parallel zum geringeren Energieverbrauch ablaufen soll.

Thermografie in der Automatisierung - Isabellenhuette

Ther­mo­grafie in der Auto­ma­ti­sie­rung

Die Isabellenhütte Heusler GmbH & Co. KG hat das Potential der Thermografie frühzeitig erkannt und setzt die Infrarot-Thermografie bei der Qualitätskontrolle der durch sie gefertigten niederohmigen Präzisionswiderständen ein.

Wechselrichter mit belasteten Bauteilen zur Lebensdauervorhersage - Bildrechte: istock.com / Mordolff

Ther­mo­gra­fi­sche Mikro­skopie in der Elektronik

Steigende Leistungsvorgaben für elektronische Bauelemente führen dazu, dass auf immer kleineren Flächen enorme Anforderungen an das Wärmemanagement gestellt werden.

Thermografie in der Elektronikprüfung - Bildnachweis: © iStock.com / Jimmyan

Ther­mo­grafie in der Elek­tro­nik­prü­fung

Die Firma Delphi setzt am Laborstandort Test & Validation Services des Unternehmens in Wiehl verstärkt Thermografie als Qualitätssicherungsmaßnahme in der Design- und Produktvalidation ein. Damit wird eine stabile hardwareseitige Grundlage für die Integration immer neuer Funktionalitäten in Automobilen gelegt, die letztlich einen wichtigen Beitrag zur Verkehrssicherheit liefert.

Veröf­fent­li­chungen unserer Kunden

AI Trustworthiness in the era of Advanced Packaging: Challenges and Opportunities; Katayoon Yahyaei et al.

Thermografie Systemlösung: E-LIT

Diese Arbeit untersucht die potenziellen Bedrohungen für KI-Hardware innerhalb fortschrittlicher Verpackungstechnologien und analysiert reale Szenarien, in denen diese Schwachstellen kritische Anwendungen beeinträchtigen könnten. Darüber hinaus werden Techniken zur Schaffung von Vertrauen untersucht, darunter physikalisch gesicherte Fingerabdrücke und Wasserzeichen, die robuste Mechanismen zur Überprüfung der Integrität von KI-Hardware bieten. Um die Vertrauenswürdigkeit von KI systematisch zu bewerten, schlagen wir einen umfassenden Rahmen vor, der software-, physikalische und messtechnische Metriken integriert.

ROHM gewährt Einblick in sein Qualitätssicherungslabor- Erfolgreiche Null-Fehler-Strategie in der Halbleiterfertigung

Thermo-Seal: A Multi-Layered Infrared Watermarking Scheme for on-Field IC Provenance Verification Using Thermal Signatures; M. Shafkat M. Khan et al.

Thermografie Systemlösung: E-LIT

In dieser Arbeit schlagen die Autoren einen robusten, mehrschichtigen Ansatz für die Einbettung eines Wasserzeichensystems namens „Thermo-Seal“ vor, das die Wechselwirkung zwischen Firmware-gesteuerten und hardwarebasierten Signalen nutzt, um thermische Signaturen zu erzeugen, die mittels transienter IR-Thermografie erkannt werden können.

Transiente Methoden der Infrarot-Thermografie zur zerstörungsfreien Fehleranalytik in der mikroelektronischen Aufbau- und Verbindungstechnik; M. Eng. Daniel May, Technische Universität Chemnitz

A reference-free micro defect visualization using pulse laser scanning thermography and image processing, Jinyeol Yang et al., Samsung Electronics, Asan

Temperature gradients in microelectrode measurements: Relevance and solutions for studies of SOFC electrode materials, T.M. Huber et al., Vienna University of Technology

Modeling and Fabrication of Pt Micro–Heaters Built on Alumina Substrate, Sasa Toskov et al., Vienna University of Technology

Lanthanide-doped glasses as frequency-converter for high-power LED applications, Stefan Schweizer et al., South Westphalia University of Applied Sciences

Microheater based on magnetic nanoparticle embedded PDMS, Jeong Ah Kim et al., Seoul National University

Piezoelectric Response of Polycrystalline Silicon-Doped Hafnium Oxide Thin Films Determined by Rapid Temperature Cycles, Clemens Mart et al., Infineon Technologies

Events on Demand

Wir bieten Ihnen eine Vielzahl an Webinaren on demand zur Thermografie in der Elektronik und Elektroindustrie mit vertiefende Informationen zu spezifischen Anwendungen und Lösungen.

  • Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits

  • Micro-Ther­mo­graphy – Contact­less Temper­ature Meas­ure­ment in the Micro­meter Scale

  • Thermography Solutions for Power Electronics – Precise, Non-contact and High-speed

Mehr zu den on demand Webinaren zur Elektronik

Weitere passende Webinar-Themen

Thermografie für die industrielle Automation

Thermography and Digital Image Correlation – A Winning Team in the Materials and Components Testing Field

High-speed Thermography in Highest Quality

InfraTec-Webinar: Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits - Bildnachweis: © iStock.com / scorpp

Exzel­lente Abstim­mung von Wärme­bild­ka­mera, Ther­mo­grafie-Soft­ware und Peri­pherie

InfraTec legt besonderen Wert auf das optimale Zusammenspiel zwischen Wärmebildkamera und Thermografie-Software. In der Elektronikfertigung unterstützt die Software IRBIS® 3 sowohl passive als auch aktive Thermografieverfahren. Sie bietet Anwendern leistungsstarke Werkzeuge, um Fehler zielsicher zu erkennen und präzise darzustellen.

Funktionen & Vorteile für die Fehlerlokalisierung:

  • Vergleich aktueller Thermogramme mit Referenzbildern

  • Darstellung von Amplituden- und Phasenbildern bei Lock-In-Thermografie

  • Individuelle Parametereinstellung für präzise Fehlerlokalisierung

Bei Messungen an Leiterplatten und Hybrid-Baugruppen ist die Vielfalt der Materialien (Metalle, Keramiken, Kunststoffe) eine besondere Herausforderung. Unterschiedliche Oberflächeneigenschaften erfordern eine exakte Anpassung des Emissionsgrades. Mit der Software IRBIS® 3 lässt sich der Emissionsgrad für jedes einzelne Pixel sowohl bestimmen als auch einstellen und damit die gemessene Temperatur unter der Berücksichtigung des Emissionsgrades und der Umgebungstemperatur automatisch korrigieren.

InfraTec thermography software IRBIS 3
Thermografie-Software IRBIS 3 von InfraTec

Präzise Temperaturmessung durch IRBIS® 3:

  • Emissionsgrad für jedes Pixel individuell einstellen

  • Automatische Temperaturkorrektur inkl. Umgebungseinflüsse

  • Korrekturmodelle berücksichtigen Strahlung aus der Umgebung, verwendete Fenster oder Dämpfungseigenschaften der Messstrecke

Mehr erfahren über die Ther­mo­grafie-Soft­ware IRBIS® 3

Optiken

Das umfangreiche Sortiment an hochwertigen Präzisions- Wechseloptiken ermöglicht die Anpassung der Bildfeldgeometrie an nahezu jede Messsituation:

  • Weitwinkel-, Normal- und Teleobjektive

  • Close-Up-Makrovorsätze

  • Mikroskopobjektive

  • Solid Immersion Lenses (SIL)

Zubehör

Neben den Optiken können Anwender aus einer Vielzahl an Zubehörkomponenten wählen:

  • Anregungseinheiten für die Aktiv-Thermografie

  • Zwei-Achs-Positionierungssysteme

  • X-Y-Messtische

  • Motorische Mikroskopstative

InfraTec Objektive - Hochwertige Volloptiken
Stativsystem für Wärmebildkameras
Kontakt zum Bereich Thermografie der InfraTec

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InfraTec Deutschland
InfraTec GmbH Infrarotsensorik und MesstechnikGostritzer Straße 61 - 6301217 DresdenDEUTSCHLAND

FAQ Thermografie in der Elektronik

Das Prinzip der berührungslosen thermografischen Temperaturmessung erlaubt die fehlerfreie Bestimmung der Temperatur von Messobjekten geringer Größe und kleiner Wärmekapazität. Selbst bei Verwendung kleinster berührender Temperatursensoren ist dies dagegen oft unmöglich, da deren Wärmeableitung häufig eine Verfälschung der Messergebnisse bewirkt. In vielen Fällen wird der Einsatz von Thermoelementen bereits von vornherein durch den Aufbau oder die Funktion der Schaltung selbst verhindert. Hinzu kommt, dass Strukturen elektronischer Messobjekte mitunter so klein sind, dass sich Temperatursensoren auf diesen gar nicht mehr anbringen lassen.

Thermografiesysteme mit hoher geometrischer Auflösung sind in der Lage, kleinste Strukturen klar sichtbar zu machen und darüber hinaus exakt deren Temperaturverteilung nebst zeitlichem Verlauf zu bestimmen. Mithilfe von speziellen Makrovorsätzen und leistungsfähigen Infrarot-Mikroskopobjektiven können Anwender auf der Oberfläche von Bauteilen wie Halbleiterbauelementen Hotspots von wenigen Mikrometern Größe thermografisch vermessen. Bei zusätzlicher Verwendung von auf dem Messobjekt aufgesetzten SIL-Linsen (Solid Immersion Lens) können auch noch kleinere Strukturgrößen detektiert werden. In Kombination mit entsprechenden Verfahren der Aktiv-Thermografie werden zur Fehlerlokalisierung Temperaturdifferenzen [DP1] klar sichtbar gemacht.


 [DP1]bereits umgesetzt

Elek­tronik-Leit­faden

Laden Sie unser Elektronik-Leitfaden „Elektronik / Elektrotechnik“ herunter und erfahren Sie mehr über Thermografiesysteme für den Einsatz in Entwicklung und Produktion.

InfraTec Elektronik / Elektrotechnik Flyer

Kundenstimmen

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Da ich in der Forschung und Entwicklung arbeitete, bin ich auf präzise Werkzeuge angewiesen, und die IR-Kamera von Infratec erfüllt diese Anforderungen. Die Software ist intuitiv, die Ergonomie erleichtert die Bedienung und die Funktionen sind perfekt für detaillierte thermische Analysen. Der Kundensupport ist ausgezeichnet. Die Tatsache, dass es sich um ein Qualitätsprodukt aus der EU handelt, schafft zusätzliches Vertrauen. Sehr empfehlenswert.

Grzegorz Klęczar, R&D Senior Electronics Engineer in HVDC, Hitachi ABB Power Grids sp. z.o.o.

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Aktiv-Thermografie - Bildnachweis: © Rainer / Fotolia.com

Aktiv-Ther­mo­grafie

Nutzen Sie die aktive Thermografie zur zerstörungsfreien und berührungslosen Werkstoffprüfung, sowohl für automatisierte Inline- als auch Offline-Lösungen.

Microthermografie

Mikro­ther­mo­grafie

Die Mikrothermografie ermöglicht die thermische Analyse kleinster Strukturen im µm-Bereich und somit eine detaillierte Darstellung der Temperaturverteilung auf komplexen elektronischen Baugruppen.

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